主營(yíng)產(chǎn)品：
狀態(tài)監(jiān)測(cè)部（主營(yíng)振動(dòng)分析儀器、油顆粒度檢測(cè)儀、激光對(duì)中儀、軸承加熱器、頻閃儀和熱像儀等）無損檢測(cè)部（主營(yíng)光譜儀、探傷儀、硬度計(jì)、測(cè)厚儀和金相顯微鏡等）環(huán)保儀器部（主營(yíng)粉塵檢測(cè)儀、氣體檢測(cè)儀、噪音計(jì)、色譜儀和激光測(cè)距儀等）
產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
牛津CMI243便攜金屬鍍層測(cè)厚儀是一款靈便易用的儀器，專為金屬表面處理者設(shè)計(jì)，配置的單探頭可測(cè)量鐵質(zhì)底材上幾乎所有金屬鍍層。在極小的、形狀特殊的或表面粗糙的樣品上進(jìn)行測(cè)量的能力，使CMI243鍍層測(cè)厚儀成為緊固件行業(yè)應(yīng)用的理想工具。采用基于相位電渦流技術(shù)，CMI243手持式鍍層測(cè)厚儀以友好的控制和可以與X射線熒光測(cè)厚儀媲美的準(zhǔn)確、精密的測(cè)量而著稱。
詳情介紹：
牛津CMI243便攜金屬鍍層測(cè)厚儀測(cè)量技術(shù)：
一般的測(cè)試方法，例如一般測(cè)厚儀制造商所采用的普通磁感應(yīng)和渦流方式，由于探頭的"升離效應(yīng)"導(dǎo)致的底材效應(yīng)，和由于測(cè)試件形狀和結(jié)構(gòu)導(dǎo)致的干擾，都無法達(dá)到對(duì)金屬性鍍層厚度的**測(cè)量。而牛津儀器將*新的基于相位電渦流技術(shù)應(yīng)用到CMI243鍍層測(cè)厚儀，使其達(dá)到了±3%以內(nèi)（對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)片）的準(zhǔn)確度和0.3%以內(nèi)的**度。牛津儀器對(duì)電渦流技術(shù)的獨(dú)特應(yīng)用，將底材效應(yīng)*小化，使得測(cè)量精準(zhǔn)且不受零件的幾何形狀影響。另外，鍍層測(cè)厚儀一般不需要在鐵質(zhì)底材上進(jìn)行校準(zhǔn)。
牛津CMI243便攜金屬鍍層測(cè)厚儀先進(jìn)的ECP-M探頭:
ECP-M探頭專為較難測(cè)量的金屬覆層設(shè)計(jì)，此單探頭可以測(cè)量鐵質(zhì)底材上幾乎所有金屬覆層，例如鍍鋅、鍍鎳、鍍銅、鍍鉻和鍍鎘等。更小的探針為極小的、形狀特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的測(cè)量。
牛津CMI243便攜金屬鍍層測(cè)厚儀技術(shù)規(guī)格：
準(zhǔn)確度:±3%，對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)片
**度:0.3 %
分辨率:0.01 mils (0.1μm)
電渦流:遵循 DIN 50984, BS5411 第三部分，ISO 2360，ISO 21968 (草案)ASTM B499 & ASTM E376
存儲(chǔ)量:26,500條存儲(chǔ)讀數(shù)
尺寸:5 7/8英寸(長(zhǎng))×3 1/8英寸(寬)×1 3/16英寸(高) （14.9×7.94×3.02厘米）
重量:9盎司（0.26千克）包括電池
單位:通過一個(gè)按鍵實(shí)現(xiàn)英制和公制的自動(dòng)轉(zhuǎn)換
接口:RS-232串行接口，波特率可調(diào)，用于下載至打印機(jī)或計(jì)算機(jī)
顯示:三位LCD液晶顯示，1/2英寸（1.27厘米）高
電池:9伏電池
電池壽命:65小時(shí)連續(xù)使用
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牛津CMI243便攜金屬鍍層測(cè)厚儀基本配置：
CMI243主機(jī)
ECP-M探頭及固定導(dǎo)向裝置
校準(zhǔn)用鐵上鍍鋅標(biāo)準(zhǔn)片組
牛津CMI243便攜金屬鍍層測(cè)厚儀選用配件:
其他應(yīng)用的校準(zhǔn)用標(biāo)準(zhǔn)片，SMTP-1（磁感應(yīng)探頭）
一般的測(cè)試方法，例如一般測(cè)厚儀制造商所采用的普通磁感應(yīng)和渦流方式，由于探頭的"升離效應(yīng)"導(dǎo)致的底材效應(yīng)，和由于測(cè)試件形狀和結(jié)構(gòu)導(dǎo)致的干擾，都無法達(dá)到對(duì)金屬性鍍層厚度的**測(cè)量。而牛津儀器將*新的基于相位電渦流技術(shù)應(yīng)用到CMI243鍍層測(cè)厚儀，使其達(dá)到了±3%以內(nèi)（對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)片）的準(zhǔn)確度和0.3%以內(nèi)的**度。牛津儀器對(duì)電渦流技術(shù)的獨(dú)特應(yīng)用，將底材效應(yīng)*小化，使得測(cè)量精準(zhǔn)且不受零件的幾何形狀影響。另外，鍍層測(cè)厚儀一般不需要在鐵質(zhì)底材上進(jìn)行校準(zhǔn)。
牛津CMI243便攜金屬鍍層測(cè)厚儀先進(jìn)的ECP-M探頭:
ECP-M探頭專為較難測(cè)量的金屬覆層設(shè)計(jì)，此單探頭可以測(cè)量鐵質(zhì)底材上幾乎所有金屬覆層，例如鍍鋅、鍍鎳、鍍銅、鍍鉻和鍍鎘等。更小的探針為極小的、形狀特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的測(cè)量。
牛津CMI243便攜金屬鍍層測(cè)厚儀技術(shù)規(guī)格：
準(zhǔn)確度:±3%，對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)片
**度:0.3 %
分辨率:0.01 mils (0.1μm)
電渦流:遵循 DIN 50984, BS5411 第三部分，ISO 2360，ISO 21968 (草案)ASTM B499 & ASTM E376
存儲(chǔ)量:26,500條存儲(chǔ)讀數(shù)
尺寸:5 7/8英寸(長(zhǎng))×3 1/8英寸(寬)×1 3/16英寸(高) （14.9×7.94×3.02厘米）
重量:9盎司（0.26千克）包括電池
單位:通過一個(gè)按鍵實(shí)現(xiàn)英制和公制的自動(dòng)轉(zhuǎn)換
接口:RS-232串行接口，波特率可調(diào)，用于下載至打印機(jī)或計(jì)算機(jī)
顯示:三位LCD液晶顯示，1/2英寸（1.27厘米）高
電池:9伏電池
電池壽命:65小時(shí)連續(xù)使用
牛津CMI243便攜金屬鍍層測(cè)厚儀基本配置：
CMI243主機(jī)
ECP-M探頭及固定導(dǎo)向裝置
校準(zhǔn)用鐵上鍍鋅標(biāo)準(zhǔn)片組
牛津CMI243便攜金屬鍍層測(cè)厚儀選用配件:
其他應(yīng)用的校準(zhǔn)用標(biāo)準(zhǔn)片，SMTP-1（磁感應(yīng)探頭）
